- выход годных на операции зондовых испытаний
- probe yield
Русско-английский словарь по микроэлектронике. 2013.
Русско-английский словарь по микроэлектронике. 2013.
выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний — zondais išbandytų lustų išeiga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Chipprüfausbeute — zondais išbandytų lustų išeiga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m … Radioelektronikos terminų žodynas
probed chip yield — zondais išbandytų lustų išeiga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m … Radioelektronikos terminų žodynas
rendement des puces aux essais de sonde — zondais išbandytų lustų išeiga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m … Radioelektronikos terminų žodynas
zondais išbandytų lustų išeiga — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m … Radioelektronikos terminų žodynas